事業内容トップ > ステンレス・その他特殊鋼加工 > クリーンテクノロジー(CT)

クリーンテクノロジー(CT)

クリーンテクノロジー(CT)で高度なクリーン品質に対応

サニタリー配管の加工製品は、加工環境や洗浄梱包などのクリーン度が設備の品質に大きく影響します。日章アステックは2工場にクリーンルームを備え、クリーンテクノロジー(CT)で高度なクリーン要求品質にお応えしています。

クリーンテクノロジーの特徴

クリーン環境における細管微細加工 (箕面工場クリーンルーム)

半導体や医薬品製造装置に用いるの精密・クリーン配管の加工製造を行っています。お客様がお求めの仕様に沿い、ステンレス細管を高精度でクリーンな製品に加工します。極めて高い加工精度や材料表面の品質を求められる半導体や医薬品製造設備の精密配管加工も当社にお任せください。


クリーン環境における電解研磨の精密洗浄 (篠山工場クリーンルーム)

電解研磨で上質な研磨面を作っても、処理後の傷や汚れの付着は、電解研磨本来の品質を損ないます。酸洗不動態処理、超純水による洗浄、クリーンエアによる乾燥など細心の注意を払い、お客様に安心してお使いいただけるよう加工品のクリーン仕上げを行います。


クリーン環境におけるクリーン梱包 (篠山工場クリーンルーム)

包装作業は、ホコリや汚れを遮断したクリーンルームで行われます。包装部材や包装方法にもこだわり、出荷部門と連携して高品質な製品をお客様の現場までお届けします。


クリーンルームでの微細加工

クリーンルームでの梱包

CT用語集

クリーンルーム (clean room)
浮遊粒子濃度が制御されており、室内における微小粒子の流入、生成及び停滞を最小限にするように建設され、温度・湿度・圧力などが必要に応じて制御されている部屋 (ISO14644-1)


エアシャワー(air shower)
クリーンルームなどの出入口に設けられる装置。清浄空気で満たされたクリーンルーム内に外部から作業者や材料が入るとき、一緒に塵埃などの汚染物質を持ち込ませないようにする必要がある。そのためクリーンルーム室内と外部の間に、二重扉によって仕切られた小部屋を設け、室内に入る人や物の表面に清浄空気を直接吹き付け付着した塵埃を除塵する。また2つの扉が同時に開かない機構があり、外部とクリーンルームを遮断するエアロックとして機能する。

エアシャワーの使用


HEPAフィルタ (High Efficiency Particulate Air Filter)
空気中からゴミ、塵埃などを取り除き、清浄空気にする目的で使用するエアフィルタの一種。空気清浄機やクリーンルームのメインフィルタとして用いられる。(Wikipedia)
定格風量で粒径が0.3 µmの粒子に対して99.97%以上の粒子捕集率をもち、かつ初期圧力損失が245Pa以下の性能を持つエアフィルタ。


粉じん
固形物がその化学的組成が変わらないままで形・大きさが変わって粒状になり分散した粒子。(JIS Z 8122)


超純水
超純水製造装置によって水中の懸濁物質,溶解物質,微小粒子及び不純物を高効率に取り除いた極めて高純度の水。

篠山工場の超純水製造装置

超純水製造装置の内部


超純水製造装置
上水道水,井戸水,工業用水などを原水とし,その中の不純物をイオン交換樹脂,逆浸透膜,限外ろ過膜,紫外線酸化などを用いて精製し,高純度の純水を製造する設備。


注射用水
常水又は精製水の蒸留,又は精製水の超ろ過によって作製した水で注射用に供する。注射剤の精製に用いるもの,又はこれを容器に入れて滅菌したものがある。


清浄度クラス
清浄度レベルを等級分けする。備考 例えば,粒子濃度についての等級付けは,粒径別の粒子濃度の程度によって決定される。JIS B 9920では清浄度クラスを 1立方メートルの空気中に含まれる粒径 0.1µm 以上の微小粒子数を 10 のべき乗で表したべき数で表し,クラス1〜クラス8に分類している。

参考:
日本工業規格  JIS B 9920-1:2019 

洗浄度クラス 次の対象粒径以上a)の粒子に対する上限粒子数濃度(個/m3) 
(N)  0.1 μm  0.2 μm  0.3 μm  0.5 μm  1 μm  5 μm 
1 10  c)  c)  c)  c)  d)
2 100  24 10 c)  c)  d)
3 1,000 237 102 35 c)  d)
4 10,000 2,370 1,020 352 83 d)
5 100,000 23,700 10,200 3,520 832 e), [ c),d) ]
6 1,000,000 237,000 102,000 35,200 8,320 293
7 b) b) b) 352,000 83,200 2,930
8 b) b) b) 3,520,000 832,000 29,300
9 b) b) b) 35,200,000 8,320,000 293,000

a) この表の最大許容粒子数は,対象粒径以上の粒子数の累積値を示す。例えば,清浄度クラス5,0.3 μmに示す10 200個の粒子は,同粒径及びその粒径以上の全ての粒子を含む。

b) 非常に粒子濃度が高いため,表のこの領域に濃度限界は適用しない。

c) 低濃度のため粒子のサンプリング及び統計処理は,クラス分類に不適切である。

d) 粒子サンプリング経路における計数損失を考慮し,低濃度の粒子,及び1 μm以上の粒径双方の最大許容粒子測定は,クラス分類に不適切である。

e) クラス5に関連し対象とする粒径として5 μmは指定しない。併記が必要な場合は,粗大粒子M表示を採用してもよい。

f) このクラスは,通常運転状態に適用可能。

Copyright © NISSHO ASTEC CO.,LTD. All rights reserved.